இரு கட்ட பண்பேற்ற கோலிமேட்டருக்கான புதிய வகை துல்லிய அளவீடு

சீன அகாடமி ஆஃப் சயின்ஸின் (CAS) ஜியான் ஆப்டிக்ஸ் அண்ட் ப்ரெசிஷன் மெக்கானிக்ஸ் (XIOPM) இன் பேராசிரியர் யாங் ஜியான்ஃபெங் தலைமையிலான ஒரு ஆராய்ச்சி குழு சமீபத்தில் ஒரு இரு-கோள அலை டால்போட் விளைவை அடிப்படையாகக் கொண்ட கட்டம் பண்பேற்றம் கோலிமேட்டருக்கான(Collimator) உயர்-துல்லியமான முறுக்கு அளவீட்டை முன்மொழிந்தது. அவர்களின் புதுப்பித்த முடிவுகள் அப்ளைடு ஆப்டிக்ஸில் வெளியிடப்பட்டன.

கடினமான எக்ஸ்-கதிர்களில் சூரிய கதிர்களை படம்பிடிப்பதற்கான முக்கிய கருவிகளாக இரு-கட்டம் பண்பேற்றம் கோலிமேட்டர்கள் உள்ளன. இரு கட்ட கோலிமேட்டரின் இமேஜிங் தரம் பின்புற கட்டத்திற்கும் முன் கட்டத்திற்கும் இடையிலான திருப்பத்திற்கு உணர்திறன் கொண்டது. எனவே, உயர்-துல்லியமான திருப்ப அளவீட்டை எவ்வாறு அடைவது என்பது ஒரு முக்கியமான பிரச்சினையாக உள்ளது.

மேற்கூறப்பட்ட பிரச்சனைக்கு தீர்வு காண, யாங் மற்றும் அவரது குழு உறுப்பினர்கள் கோள அலை டால்போட் விளைவை அடிப்படையாகக் கொண்ட இரு-கட்டம் பண்பேற்றம் கோலிமேட்டருக்கான திருப்பத்தை துல்லியமாக அளவிட ஒரு புதிய வழியை முன்மொழிந்தனர். முழு கோட்பாடும் இரண்டு பகுதிகளாக பிரிக்கப்பட்டது, கோள அலை டால்போட் விளைவு மற்றும் திருப்ப கோண அளவீட்டு கொள்கை ஆகியவற்றை கொண்டு செயல்படுகிறது.

சோதனைகளின் முடிவுகளின்படி, கோள அலை டால்போட் விளைவின் அடிப்படையில், முன்மொழியப்பட்ட அளவீட்டின் செயல்திறன் சரிபார்க்கப்பட்டது. எதிர்காலத்தில், இரு கட்ட கோலிமேட்டரின் இமேஜிங் தரத்தை மேம்படுத்த இது உதவியாக இருக்கும்.

References:

• Liu, S., Xue, B., Cheng, Y., & Yang, J. (2021). High-accuracy twist measurement based on the spherical wave Talbot effect for a bi-grid modulation collimator. Applied Optics, 60(22), 6547-6553.
• Chen, Y., Li, T. P., & Wu, M. (1998). Direct demodulation technique for rotating modulation collimator imaging. Astronomy and Astrophysics Supplement Series, 128(2), 363-368.
• Fisher, T. R., Hamilton, J. W., Hawley, J. D., Kilner, J. R., Murphy, M. R., & Nakano, G. H. (1989, November). Imaging germanium spectrometer with rotational modulation grid collimators. In EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Instrumentation for Astronomy and Atomic Physics (Vol. 1159, pp. 67-77). International Society for Optics and Photonics.
• Jing, W., Zhang, Y., Zhou, G., Tang, F., & Li, H. (2002). Measurement accuracy improvement with PZT scanning for detection of DPC in Hi-Bi fibers. Optics Express, 10(15), 685-690.